SS-OCT可有效监测继发龋

日本一项研究发现，在细菌致脱矿过程中，树脂充填体周围的釉质龋坏脱矿部位在扫频光学相干层析成像（Swept-sourceOptical CoherenceTomography, SS-OCT）上显示为高亮区域。SS-OCT或可作为检测充填体边缘是否发生继发龋的有效手段。该研究7月15日在线发表于《牙科材料学杂志》（Dent Mater）。

研究人员在60 颗离体磨牙颊侧中部的釉质表面制备圆形洞型，使用复合流动树脂（EsteliteFlow Quick ） 修复，Clearfil SE Bond 或Clearfil Tri-S Bond ND 粘接剂粘接。用变形链球菌悬液在牙齿表面形成致龋细菌生物膜，培养1、2及3周后（N=10）去除生物膜，使用SS-OCT观察洞边缘的龋坏脱矿情况。记录每种粘接系统的釉质-复合树脂界面间隙，使用激光共聚焦显微镜直接观察相同部位进行验证。

结果显示，修复体周围的釉质脱矿在SS-OCT上显示为亮度增强的区域。牙颈部釉质脱矿程度明显比咬合面深（P＜0.05）。但咬合面的釉质-树脂复合界面脱矿范围显著大于牙颈部（P＜0.05）。Tri-S Bond ND 组的脱矿范围显著大于SEBond组（P＜ 0.05）。与基线期相比，脱矿范围扩大后釉质与充填体间的间隙明显增大。